📚 可测试性设计技术资料

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可测试性设计（DFT）是现代电子系统开发中不可或缺的一环，通过在设计阶段嵌入测试机制来简化故障诊断与修复过程，极大提升了产品的可靠性和维护效率。广泛应用于集成电路、嵌入式系统等领域，对于缩短产品上市时间、降低制造成本具有重要意义。本页面汇集了74615份精选资源，涵盖从基础理论到高级实践的全方位知识体系，助力工程师掌握DFT核心技能，优化设计流程，实现更高效的产品开发。

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