📚 可测试性设计技术资料

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可测试性设计(DFT)是现代电子系统开发中不可或缺的一环,通过在设计阶段引入特定的测试结构与方法,显著提高了电路板及集成电路故障检测效率和覆盖率。广泛应用于消费电子、汽车电子、航空航天等领域的产品研发过程中,对于缩短产品上市时间、降低维护成本具有重要意义。本页面汇集了74615份精选资源,涵盖从基础理论到高级应用的全方位知识体系,助力工程师掌握DFT核心技能,提升个人竞争力。

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