📚 可测试性设计技术资料

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可测试性设计(DFT)是现代电子系统开发中不可或缺的一环,通过在设计阶段嵌入特定的测试结构来简化故障诊断与定位过程,极大地提高了产品的可靠性和维护效率。广泛应用于集成电路、嵌入式系统及复杂电路板的设计中。掌握DFT技术不仅能够帮助工程师优化产品生命周期管理,还能有效降低生产成本。本页面汇集了74615份精选资源,涵盖从基础理论到高级应用的全方位知识体系,助力每一位追求卓越的电子工程师快速成长...

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