FPGA测试方法研究
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了...
可测试性设计技术资料
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可测试性设计（DFT）是现代电子系统开发中不可或缺的一环，通过在设计阶段嵌入测试机制来简化故障诊断与定位过程，提高产品可靠性。广泛应用于集成电路、嵌入式系统等领域，对于缩短上市时间、降低维护成本具有重要意义。本页面汇集了74615份精选资源，涵盖理论基础、实践案例及最新技术趋势，助力工程师掌握DFT核心技能，优化电路设计流程。立即探索，开启高效学习之旅！
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规范产品的 PCB 工艺设计，规定PCB 工艺设计的相关参数，使得PCB 的设计满足可生产性、可测试性、安规、EMC、EMI 等的技术规范要求，在产品设计过程中构建产品的工艺、技术、质量、成本优势。...
测试：就是检测出生产过程中的缺陷
测试：就是检测出生产过程中的缺陷，并挑出废品的过程。 测试的基本情况：封装前后都需要进行测试。 测试与验证的区别：目的、方法和条件 测试的难点：复杂度和约束。 可测性设计：有利于测试的设计。...
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PCB工艺设计规范
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