📚 可测试性设计技术资料

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可测试性设计(DFT)是现代电子系统开发中不可或缺的一环,旨在通过在设计阶段嵌入测试机制来提高硬件的故障检测与诊断效率。广泛应用于集成电路、嵌入式系统等领域,对于缩短产品上市时间、降低维护成本具有重要意义。掌握DFT技术不仅能够帮助工程师构建更加可靠的产品,还能提升个人职业竞争力。本页面汇集了74615份精选资源,涵盖理论基础、案例分析及最新研究成果,助力您深入理解并应用这一关键技术。

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