📚 可测试性设计技术资料

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可测试性设计(DFT)是现代电子系统开发中不可或缺的一环,通过在设计阶段嵌入测试机制来简化故障诊断与修复过程,广泛应用于集成电路、嵌入式系统等领域。掌握DFT技术不仅能够显著提高产品的可靠性和维护效率,还能有效降低生产成本。本页面汇集了74615份精选资源,涵盖从基础理论到高级实践的全方位知识体系,助力工程师快速提升专业技能,解决实际工作中的挑战。立即探索,开启您的DFT学习之旅!

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