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可测试性设计技术资料
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可测试性设计（DFT）是现代电子系统开发中不可或缺的一环，通过在设计阶段嵌入测试机制来提高电路板及芯片的故障检测效率与覆盖率。它广泛应用于消费电子、汽车电子、航空航天等领域，对于缩短产品上市时间、降低维护成本具有重要意义。本页面汇集了74615份关于DFT的权威资料，包括但不限于案例分析、最新技术论文以及实用教程，旨在帮助广大电子工程师掌握这一关键技术，提升个人竞争力。立即探索，开启您的专业...
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