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可测试性设计（DFT）是现代电子系统开发中不可或缺的一环，通过在设计阶段就考虑测试需求，有效提升电路板及芯片的故障检测与诊断能力。广泛应用于消费电子、汽车电子、航空航天等多个领域，不仅能够显著缩短产品上市时间，还能大幅降低维护成本。本页面汇集了74615份精选资源，涵盖从基础理论到高级应用的全方位知识体系，是每位追求卓越设计质量的电子工程师不可多得的学习宝库。

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