📚 可测试性设计技术资料

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可测试性设计(DFT)是现代电子系统开发中不可或缺的一环,旨在通过在设计阶段嵌入特定的测试结构来简化故障检测与诊断过程。广泛应用于集成电路、微处理器及复杂电路板的设计中,有效提升产品可靠性与维护效率。掌握DFT技术不仅能够帮助工程师构建更加健壮的硬件架构,还能显著缩短产品上市时间。本站提供74615份精选资源,涵盖从基础理论到高级应用的全方位指导,助力您快速成长为DFT领域的专家。

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📅 👤 宋桃子

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