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可测试性设计技术资料
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可测试性设计（DFT）是现代电子系统开发中不可或缺的一环，通过在设计阶段嵌入测试机制，显著提升电路板及集成电路的故障检测效率与可靠性。广泛应用于消费电子、汽车电子、航空航天等领域。掌握DFT技术不仅能够帮助工程师优化产品生命周期管理，还能有效降低维护成本。本页面汇集了74615份精选资源，涵盖从基础理论到高级应用的全方位知识体系，助力您快速成长为该领域的专家。立即探索，开启您的专业成长之旅！
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