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可测性设计技术资料
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可测性设计（DFT）是现代电子系统开发中不可或缺的一环，旨在提高电路测试效率与故障覆盖率。通过集成特定的测试结构和逻辑，DFT技术能够显著降低测试成本并加速产品上市时间。广泛应用于集成电路、微处理器及嵌入式系统的验证过程中。掌握DFT不仅有助于提升个人技能，在复杂芯片设计领域更具竞争力，也是确保产品质量的关键因素之一。探索超过66,000份精选资源，深入学习如何优化您的设计方案以满足严格的测...
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