摘要：介绍了在同一系统内，MCS51系列两单片机之间采用单向并行通信接口、主从双向并行通信接口、无主从双向并行通信操作实现双机互连的方法，分析了在每一种通信接口工作方式下数据传送的特点。在三种并行通信接口为单片机应用系统扩充硬件资源的设计提供了新的途径。关键词：单片机 并行通信 接口 数据传送
上传时间： 2013-11-24
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AVR mega128开发板 联系 杨迪 15336417867 0531-55508458 QQ：1347978253 http://www.easyele.cn 产品概述:AVR mega128开发板是AVRVi开发的基于Atmega128单片机的综合学习开发系统，板载学习资源，集成JTAG仿真器和ISP下载功能，核心板可拆卸独立使用，是你学习AVR单片机，参加各类电子设计竞赛，快速搭建产品的不二选择。AVR mega128开发板亦可以作为单片机培训，高校实验室，课程设计等的实验器材。为了更好的支持客户的学习和开发，此开发板板通讯接口升级为USB接口，方便计算机没有串口的朋友，学习起来更加简捷。货号：EasyAVRM128SK-A 规格： 套 重量：300克 单价498/套。 参数特色： 1.采用核心板和主板分离的形式，在系统的学习之后，可以把核心板直接用于产品中，快速搭建系统。 2.开发板上集成了AVR JTAG ICE仿真器和AVR ISP编程器，超高性价比。 3.您只需要再拥有一台计算机，而不需要购买仿真器和编程器就可以学习开发了。 4.信号调理电路，输入0～10V，轨至轨信号调理。 5.系统资源适中，性价比高。 6.丰富的学习资源，完善的产品支持。 7.EasyAVR教给你从开发环境建立，软件编译，到下载，传真，硬件设计等一系列电子工程师必备的技能，真正学以致用。 AVR mega128开发板板上资源： M128 所有引脚引出，可以利用杜邦头很方便的进行接插扩展，标准2.54针距，可以直接插在万用板上使用，便于进行实验 m128 DB Core 自带5V、3V3 双路电源稳压 m128 DB Core 外部晶振多种选择，既可以使用板上已经焊接好的14.7456M的晶振，也可以自己根据自己的需求扩展，晶振的切换通过跳线实现m128 DB Core 带有JTAG ISP 标准接口 m128 DB Core 自带一路标准RS232－TTL转换电路，方便实现串口通信 AVR mega128 开发板底板：板载JTAG 仿真器 板载STK500 下载内核 2路独立可调的信号调理电路，可控增益G=0.1-10 2路RS232 串行接口 1路RS485 接口 8 路LED 显示 4 位动态7 段数码管，利用74HC595进行驱动 4 位独立按键 板载IIC 总线PCF8563 实时钟芯片 板载IIC 总线EEPROM AT24c01 1 路有源蜂鸣器 1 路18B20 温度传感器接口，支持单总线器件。(12820可选：10元每个) 1602LCD 接口(送1602液晶) 12232、12864 LCD 接口(LCD12864可选：80元每个) 想找一份好工作吗？ 你想成为一名电子设计工程师吗？ 你对电子设计有浓厚兴趣，而没有工具吗？ 看了很久的程序方面的书籍，却没有实践的机会吗？ 需要开发产品，想快速入门？ 想参加电子设计大赛，机器人大赛吗？ 这个性价比高的专业工具是你的不二选择，它不仅仅是一个AVR mega128 开发板，他还是一个强大的开发工具，通过它进行学习后，对电子产品的设计有进一步的认知，建立起学习ARM，DSP，FPGA的良好基础。AVR mega128 开发板集成了AVR学习板，AVR开发板，AVR编程器，AVR仿真器，AVR核心板的功能，并且可以分开独立使用。 销售清单： 1、调试好的AVR mega128开发板一块(板载JTAG ISP 二合一，已经写入自检程序) 2、ATmega128核心板一块 3、USB供电线一条 4、标准串口(RS232)通讯线缆一条 5、资料光盘一张 6、使用说明书（实验讲义）一本 7、保修卡即订单清单一份 8、赠送LCD1602液晶一块
上传时间： 2013-11-10
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NE1617A是一款高精度双通道数字温度监控器。其可以测量本地温度及远程温度。远程温度传感器可以使用分立NPN/PNP三极管（以二极管方式连接），如2N3904/2N3906。或者选用一些内嵌PNP结构（连接成二极管形式）的芯片，如INTEL的微处理器。
上传时间： 2013-11-17
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针对人行径方向测量的红外探测系统需求，提出了实现多通道模数转换器(ADC)的一种新方法，采用了双片可独立工作的带有8 通道ADC 的单片机，基于双片单片机之间的SMBus 通讯可实现16 通道ADC 系统，从而可简化后端处理电路，提高系统的数据处理能力，并取得较好的数据采集的同步性。
上传时间： 2013-10-09
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本文设计一种以C8051F020 单片机为处理器，双模式USB 为接口的比色计仪器。该仪器可以工作在USB 设备和主机两种模式。在设备模式下，能直接与计算机进行数据通信；在主机模式下，能读写Ｕ盘，通过U 盘进行数据的传输。仪器采用双USB 插座，由单片机判断确定设备的工作方式。
上传时间： 2013-11-01
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高压双管反激变换器的设计:介绍一种双管反激的电路拓扑，分析了其工作原理，给出了一些关键技术参数的计算公式，设计并研制成功的30W 380V AC5 0H z/510V DC/+15.1 V DC(1A )、+5.2VDC(2A)辅助开关电源具有功率密度高、变换效率高、可靠性高等优良的综合性能。该变换器在高电压输人情况下有重要的应用价值。【关 键 词 】变换器，辅助开关电源，双管反激 [Abstract】 A n e wt opologyfo rd oubles witchfl ybackc onverteris in troduced.Th eo perationp rincipleis a nalyzeda nds ome for mulas for calculating key parameters for the topology are presented. The designed and produced auxiliary switching power supply,i. e. 30W 380V AC5 0H z/5 10V DC/+15.1 V DC《1A )、+5.2 V DC《2A )，hase xcellentc omprehensivep erformances sucha sh ighp owerd ensity, hi ghc onversione fficiencya ndh ighr eliability.Th isc onverterh asim portanta pplicationv aluef orh igh input voltag [Keywords ]converter,au xiliary switchingp owers upply,do ubles witchf lybac
上传时间： 2013-11-01
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一种实用的单片机双CPU设计方案及其应用:针对传统仪表具有的硬件资源不足、速度慢等功能缺陷,提出了一种基于单片机的CPU设计方案,即扩展CPU,直接从主CPU对应的数据显示I/O口上获取数据,这种获取数据的双CPU设计方案中主从CPU之间在功能上相互独立,主CPU不受扩展CPU加入的影响,实现其固有功能,保证了测量数据的准确性;扩展CPU从主CPU中获取数据,不受主CPU的控制,按照现场的需求进行功能扩展。给出了详细的软硬件设计结构。该方案为传统仪表的升级改造提供了一种新思路,实践证明是可行的。关键词: 传统仪表 检测系统 单片机
上传时间： 2013-10-30
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用单片机AT89C51改造普通双桶洗衣机：AT89C2051作为AT89C51的简化版虽然去掉了P0、P2等端口，使I/O口减少了，但是却增加了一个电压比较器，因此其功能在某些方面反而有所增强，如能用来处理模拟量、进行简单的模数转换等。本文利用这一功能设计了一个数字电容表，可测量容量小于2微法的电容器的容量，采用3位半数字显示，最大显示值为1999，读数单位统一采用毫微法（nf），量程分四档，读数分别乘以相应的倍率。电路工作原理 本数字电容表以电容器的充电规律作为测量依据，测试原理见图1。电源电路图。 压E+经电阻R给被测电容CX充电，CX两端原电压随充电时间的增加而上升。当充电时间t等于RC时间常数τ时，CX两端电压约为电源电压的63.2%，即0.632E+。数字电容表就是以该电压作为测试基准电压，测量电容器充电达到该电压的时间，便能知道电容器的容量。例如，设电阻R的阻值为1千欧，CX两端电压上升到0.632E+所需的时间为1毫秒，那么由公式τ=RC可知CX的容量为1微法。 测量电路如图2所示。A为AT89C2051内部构造的电压比较器，AT89C2051 图2 的P1.0和P1.1口除了作I/O口外，还有一个功能是作为电压比较器的输入端，P1.0为同相输入端，P1.1为反相输入端，电压比较器的比较结果存入P3.6口对应的寄存器，P3.6口在AT89C2051外部无引脚。电压比较器的基准电压设定为0.632E+，在CX两端电压从0升到0.632E+的过程中，P3.6口输出为0，当电池电压CX两端电压一旦超过0.632E+时，P3.6口输出变为1。以P3.6口的输出电平为依据，用AT89C2051内部的定时器T0对充电时间进行计数，再将计数结果显示出来即得出测量结果。整机电路见图3。电路由单片机电路、电容充电测量电路和数码显示电路等 图3 部分组成。AT89C2051内部的电压比较器和电阻R2-R7等组成测量电路，其中R2-R5为量程电阻，由波段开关S1选择使用，电压比较器的基准电压由5V电源电压经R6、RP1、R7分压后得到，调节RP1可调整基准电压。当P1.2口在程序的控制下输出高电平时，电容CX即开始充电。量程电阻R2-R5每档以10倍递减，故每档显示读数以10倍递增。由于单片机内部P1.2口的上拉电阻经实测约为200K，其输出电平不能作为充电电压用，故用R5兼作其上拉电阻，由于其它三个充电电阻和R5是串联关系，因此R2、R3、R4应由标准值减去1K，分别为999K、99K、9K。由于999K和1M相对误差较小，所以R2还是取1M。数码管DS1-DS4、电阻R8-R14等组成数码显示电路。本机采用动态扫描显示的方式，用软件对字形码译码。P3.0-P3.5、P3.7口作数码显示七段笔划字形码的输出，P1.3-P1.6口作四个数码管的动态扫描位驱动码输出。这里采用了共阴数码管，由于AT89C2051的P1.3-P1.6口有25mA的下拉电流能力，所以不用三极管就能驱动数码管。R8-R14为P3.0-P3.5、P3.7口的上拉电阻，用以驱动数码管的各字段，当P3的某一端口输出低电平时其对应的字段笔划不点亮，而当其输出高电平时，则对应的上拉电阻即能点亮相应的字段笔划。
上传时间： 2013-12-31
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新颖实用的单片机双积分A/D转换电路和软件:摘 要: 通过对双积分A/ D 转换过程及其原理的分析,结合8031 单片机定时计数器的特点,设计出一种新的A/ D 转换电路. 详细介绍了这种转换电路的硬件原理及工作过程,给出了实用的硬件电路与软件设计框图. 通过比较分析,可以看出这种A/ D 转换电路性能价格比较高,软件编程简单,并且转换速度和精度优于一般的A/ D 转换电路. 这种设计思路为数模转换器(A/ D) 的升级提高指出一个明确的方向.关键词:单片机; 定时/ 计数器; A/ D 转换; 双积分 双积分A/ D 及定时计数器原理:我们先分析双积分A/ D 转换的工作原理. 如图1 所示,积分器先以固定时间T 对待测的输入模拟电压Vi 进行正向积分,积分电容C 积累的电荷为
上传时间： 2014-01-18
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P C B 可测性设计布线规则之建议― ― 从源头改善可测率PCB 设计除需考虑功能性与安全性等要求外，亦需考虑可生产与可测试。这里提供可测性设计建议供设计布线工程师参考。1. 每一个铜箔电路支点，至少需要一个可测试点。如无对应的测试点，将可导致与之相关的开短路不可检出，并且与之相连的零件会因无测试点而不可测。2. 双面治具会增加制作成本，且上针板的测试针定位准确度差。所以Layout 时应通过Via Hole 尽可能将测试点放置于同一面。这样就只要做单面治具即可。3. 测试选点优先级：A.测垫(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件脚(Component Lead) D.贯穿孔(Via Hole)(未Mask)。而对于零件脚，应以AI 零件脚及其它较细较短脚为优先，较粗或较长的引脚接触性误判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm)，厚度少于此值之PCB 容易板弯变形，影响测点精准度，制作治具需特殊处理。5. 避免将测点置于SMT 之PAD 上，因SMT 零件会偏移，故不可靠，且易伤及零件。6. 避免使用过长零件脚(>170mil(4.3mm))或过大的孔(直径>1.5mm)为测点。7. 对于电池(Battery)最好预留Jumper，在ICT 测试时能有效隔离电池的影响。8. 定位孔要求：(a) 定位孔(Tooling Hole)直径最好为125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 须有2 个定位孔和一个防呆孔(也可说成定位孔,用以预防将PCB反放而导致机器压破板)，且孔内不能沾锡。(c) 选择以对角线，距离最远之2 孔为定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不应设计成中心对称,即PCB 旋转180 度角后仍能放入PCB,这样,作业员易于反放而致机器压破板)9. 测试点要求：(e) 两测点或测点与预钻孔之中心距不得小于50mil(1.27mm)，否则有一测点无法植针。以大于100mil(2.54mm)为佳，其次是75mil(1.905mm)。(f) 测点应离其附近零件(位于同一面者)至少100mil，如为高于3mm 零件，则应至少间距120mil，方便治具制作。(g) 测点应平均分布于PCB 表面，避免局部密度过高，影响治具测试时测试针压力平衡。(h) 测点直径最好能不小于35mil(0.9mm)，如在上针板，则最好不小于40mil(1.00mm)，圆形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之测点需额外加工，以导正目标。(i) 测点的Pad 及Via 不应有防焊漆(Solder Mask)。(j) 测点应离板边或折边至少100mil。(k) 锡点被实践证实是最好的测试探针接触点。因为锡的氧化物较轻且容易刺穿。以锡点作测试点，因接触不良导致误判的机会极少且可延长探针使用寿命。锡点尤其以PCB 光板制作时的喷锡点最佳。PCB 裸铜测点，高温后已氧化，且其硬度高，所以探针接触电阻变化而致测试误判率很高。如果裸铜测点在SMT 时加上锡膏再经回流焊固化为锡点，虽可大幅改善，但因助焊剂或吃锡不完全的缘故，仍会出现较多的接触误判。
上传时间： 2014-01-14
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