功耗测量

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在集成电路内建自测试的过程中,电路的测试功耗通常显著高于正常模式产生的功耗,因此低功耗内建自测试技术已成为当前的一个研究热点。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率,研究了一种随机单输入跳变(Random Single Input Cha...

2013-10-08 69 功耗测量

采用AD7794,一种典型的仪用ADC,与超低功耗混合信号处理器MSP430F1611,构成了一个测量计量电路。实际使用表明,该电路具有低功耗、高精度和长期稳定性的特点;实测非线性度不大于10

2023-06-14 9 功耗测量