📚 功耗测试技术资料

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功耗测试是电子设计中不可或缺的一环,专注于评估电路及系统的能源效率。通过精确测量设备在不同工作状态下的电力消耗,工程师能够优化产品性能,延长电池寿命,并满足日益严格的能效标准。本页面汇集了14207份精选资源,涵盖从基础理论到高级应用的全方位知识,包括但不限于低功耗设计技巧、电源管理IC选型指南以及实际案例分析。无论是初学者还是资深开发者,都能在这里找到提升技能所需的一切资料。加入我们,共同...

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在集成电路内建自测试的过程中,电路的测试功耗通常显著高于正常模式产生的功耗,因此低功耗内建自测试技术已成为当前的一个研究热点。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率,研究了一种随机单输入跳变(Random Single Input Change,RSIC)测试向量生成器的设计方案,利用VHDL...

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ADI公司关于“具有温度补偿的隔离式低功耗PH值测试系统”的应用文章,采用AD7793,ADuM5401,AD8601设计一个完全隔离式低功耗pH传感器信号调理器和数字化仪,并且带有自动温度补偿以实现高精度。该电路可为0至14范围内的pH值提供精度为0.5%的读数,无噪声代码分辨率大于14位,适用于...

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通过分析 RTL 的代码和RTL 的故障仿真可得到一组屏蔽向量,将这些屏蔽向量和随机向量应用到门级进行故障测试可提高系统的故障覆盖率并降低测试功耗。本文主要论述了利用RTL 的功能信息进行低功耗BIS...

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