光测试器
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dsp 5509a 存储器测试, SDRAM 测试程序,12Mx16=192/2=96Msdram 时钟
dsp 5509a 存储器测试, SDRAM 测试程序,12Mx16=192/2=96Msdram 时钟
2016-09-26
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光纤温度传感器在HERO电磁辐射对军械EED的危险性测试
电磁辐射到军械上是危险的,潜在的电磁辐射对军工品或电子爆炸装置有不利影响,自从50 年代以来这就是众所周知的 问题。为了避免不必要的爆炸或电起爆装置(EID)从发射电磁能量增殖,这对于所有的防卫机构来说是必不可少的。伴 随着功率输出和发射设...
2013-11-16
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光电子器件微波封装和测试 半导体科学与技术丛书 2007
总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果,系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术,先进性、学术性和实用性兼备。《光电子器件微波封装和测试》共十一章,内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装...
2022-08-22
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MILMEGA新款EMC测试放大器
2010年4月13日, 专业设计和制造固态高功率宽带放大器的MILMEGA公司于2010年亚太区电磁兼容(APEMC)国际学术大会及展览会期间宣布推出一款新的放大器产品。该款产品主要针对商用EMC测试IEC 61000-4-3 标准(覆盖频...
2013-11-17
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