边扫描测试 边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的,这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路,以形成全面的电路板级测试协议。 2024-05-24 9 偏扫修复
复接入 复接入,B/W双用户使用直接扩频序列 % >>>multiple access b/w 2 users using DS CDMA % >>>format is : cdmamodem(user1,u... 2014-11-22 47 偏扫修复