代码搜索：移相法
找到约 10,000 项符合「移相法」的源代码
代码结果 10,000
www.eeworm.com/read/214091/15113525
m dttixing.m
%递推法运用梯形法求得函数得积分,此函数求得所要满足条件的值可能所需的步骤为多.在需要高精度是可能较为慢,一般求
%低精度的积分,f1是所需进行积分的函数,a,b是积分区间,a为上限,b为下限,e是精度值,是求得值与精确值的差小于e,这只是
%充分条件,而不是必要条件
function dttixing(f1,a,b,e)
n=1;
f=inline(f1);
h=(b-a);
T= ...
www.eeworm.com/read/7780/134422
txt 常用电平转换方案.txt
(1) 晶体管+上拉电阻法
就是一个双极型三极管或 MOSFET,C/D极接一个上拉电阻到正电源,输入电平很灵活,输出电平大致就是正电源电平。
(2) OC/OD 器件+上拉电阻法
跟 1) 类似。适用于器件输出刚好为 OC/OD 的场合。
(3) 74xHCT系列芯片升压 (3.3V→5V)
凡是输入与 5V TTL 电平兼容的 5V CMOS 器件都可以用作 3. ...
www.eeworm.com/read/8438/147878
txt 常用电平转换方案.txt
(1) 晶体管+上拉电阻法
就是一个双极型三极管或 MOSFET,C/D极接一个上拉电阻到正电源,输入电平很灵活,输出电平大致就是正电源电平。
(2) OC/OD 器件+上拉电阻法
跟 1) 类似。适用于器件输出刚好为 OC/OD 的场合。
(3) 74xHCT系列芯片升压 (3.3V→5V)
凡是输入与 5V TTL 电平兼容的 5V CMOS 器件都可以用作 3. ...
www.eeworm.com/read/10534/187035
txt 常用电平转换方案.txt
(1) 晶体管+上拉电阻法
就是一个双极型三极管或 MOSFET,C/D极接一个上拉电阻到正电源,输入电平很灵活,输出电平大致就是正电源电平。
(2) OC/OD 器件+上拉电阻法
跟 1) 类似。适用于器件输出刚好为 OC/OD 的场合。
(3) 74xHCT系列芯片升压 (3.3V→5V)
凡是输入与 5V TTL 电平兼容的 5V CMOS 器件都可以用作 3. ...
www.eeworm.com/read/11353/228085
txt 常用电平转换方案.txt
(1) 晶体管+上拉电阻法
就是一个双极型三极管或 MOSFET,C/D极接一个上拉电阻到正电源,输入电平很灵活,输出电平大致就是正电源电平。
(2) OC/OD 器件+上拉电阻法
跟 1) 类似。适用于器件输出刚好为 OC/OD 的场合。
(3) 74xHCT系列芯片升压 (3.3V→5V)
凡是输入与 5V TTL 电平兼容的 5V CMOS 器件都可以用作 3. ...
www.eeworm.com/read/25601/848920
txt 常用电平转换方案.txt
(1) 晶体管+上拉电阻法
就是一个双极型三极管或 MOSFET,C/D极接一个上拉电阻到正电源,输入电平很灵活,输出电平大致就是正电源电平。
(2) OC/OD 器件+上拉电阻法
跟 1) 类似。适用于器件输出刚好为 OC/OD 的场合。
(3) 74xHCT系列芯片升压 (3.3V→5V)
凡是输入与 5V TTL 电平兼容的 5V CMOS 器件都可以用作 3. ...
www.eeworm.com/read/30621/1017052
txt 常用电平转换方案.txt
(1) 晶体管+上拉电阻法
就是一个双极型三极管或 MOSFET,C/D极接一个上拉电阻到正电源,输入电平很灵活,输出电平大致就是正电源电平。
(2) OC/OD 器件+上拉电阻法
跟 1) 类似。适用于器件输出刚好为 OC/OD 的场合。
(3) 74xHCT系列芯片升压 (3.3V→5V)
凡是输入与 5V TTL 电平兼容的 5V CMOS 器件都可以用作 3. ...
www.eeworm.com/read/193048/8256149
m rlead.m
function [Gc,kc]=rlead(G,s1)
% 基于根轨迹的超前校正设计法根据所需闭环性能计算校正器的传递函数
% 对象为G，可采用传递函数、零极点和状态空间模型
% % 基于根轨迹的滞后校正解析设计法根据所需闭环性能计算校正器的传递函数
% 对象为G，可采用传递函数、零极点和状态空间模型
% s1闭环系统极点
% Gc是校正器传递函数，kc是校正器增益
% Cop ...
www.eeworm.com/read/366922/9792995
txt 白盒测试.txt
白盒测试(White-box Testing，又称逻辑驱动测试,结构测试)是把测试对象看作一个打开的盒子。利用白盒测试法进行动态测试时，需要测试软件产品的内部结构和处理过程，不需测试软件产品的功能。白盒测试又称为结构测试和逻辑驱动测试。
白盒测试法的覆盖标准有逻辑覆盖、循环覆盖和基本路径测试。其中逻辑覆盖包括语句覆盖、判定覆盖、条件覆盖、判定/条件覆盖、条件组合覆盖和路径覆盖 ...
www.eeworm.com/read/366922/9792996
txt 白盒测试.txt
白盒测试(White-box Testing，又称逻辑驱动测试,结构测试)是把测试对象看作一个打开的盒子。利用白盒测试法进行动态测试时，需要测试软件产品的内部结构和处理过程，不需测试软件产品的功能。白盒测试又称为结构测试和逻辑驱动测试。
白盒测试法的覆盖标准有逻辑覆盖、循环覆盖和基本路径测试。其中逻辑覆盖包括语句覆盖、判定覆盖、条件覆盖、判定/条件覆盖、条件组合覆盖和路径覆盖 ...