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JESD 的查询结果
技术资料 JEDEC_官方标准文档_JESD79-2F ，涵盖DDR~DDR4
JEDEC 官方标准文档涵盖DDR~DDR4
技术资料 IGBT瞬态结壳温升计算
热阻是评价IGBT可靠性的重要指标.寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义.根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法
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