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找到约 143 项符合 Boundary-Scan 的查询结果

微处理器开发 这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍

这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。
https://www.eeworm.com/dl/655/299693.html
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汇编语言 Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256 in LQFP package

Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256 in LQFP package
https://www.eeworm.com/dl/644/301865.html
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汇编语言 Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC12

Boundary-Scan Description file (BSD) for the AT91SAM7X256, AT91SAM7X128, AT91SAM7XC256, AT91SAM7XC128 in BGA package.
https://www.eeworm.com/dl/644/301867.html
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微处理器开发 这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍

这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。 这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会,希望对想了解ARM JTAG调试的网友们有所帮助。我个人对ARM JTAG的理解还不是很透彻,在文章中,难 ...
https://www.eeworm.com/dl/655/311618.html
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软件工程 OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN

OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎上,結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始 ...
https://www.eeworm.com/dl/540/333768.html
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教程资料 xapp069 - 使用XC9500 JTAG边界扫描接口

This application note explains the XC9500™/XL/XV Boundary Scan interface anddemonstrates the software available for programming and testing XC9500/XL/XV CPLDs. Anappendix summarizes the iMPACT software operations and provides an overview of theadditional operations supported by XC9500/XL/XV ...
https://www.eeworm.com/dl/fpga/doc/32569.html
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可编程逻辑 xapp069 - 使用XC9500 JTAG边界扫描接口

This application note explains the XC9500™/XL/XV Boundary Scan interface anddemonstrates the software available for programming and testing XC9500/XL/XV CPLDs. Anappendix summarizes the iMPACT software operations and provides an overview of theadditional operations supported by XC9500/XL/XV ...
https://www.eeworm.com/dl/kbcluoji/40061.html
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技术资料 CPU可测试性设计

可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中,可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU,综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片设计中的各种可测试性方法,包括扫描设计 ...
https://www.eeworm.com/dl/744116.html
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技术资料 JTAG基础知识

IEEE1149.1的产生1985年由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司成立的JETAG(Joint European Test Action Group)提出了边界扫描技术。1986年由于其它地区的一些公司的加入,JETAG改名为JTAG。1988年JTAG提出了标准的边界扫描体系结构,名称叫Boundary-Scan Architectu ...
https://www.eeworm.com/dl/838487.html
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VIP专区 VIP专区-嵌入式/单片机编程源码精选合集系列(39)

VIP专区-嵌入式/单片机编程源码精选合集系列(39)资源包含以下内容:1. 这是有关SPI总线的一段读写程序.2. 这是一段MAX7219的驱动C51源程序.3. 利用msp430的通用I/O端口模拟I2c协议的源代码.4. 超级下载软件(progisp ver1.1)包括并口下载器与usb isp下载器的详细制作资料.5. MCS51产单片机上实现的tcp/ip,很全的哦,需要的 ...
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