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技术资料 IC测试技术--设计验证
IC测试技术--设计验证，有需要的朋友可以下来看看
技术资料 FPGA测试方法研究.rar
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了目前集成电路发展的新需求，但是其结构同益复杂，规模也越来越大，内部资源的种类也R益丰富，但 ...
技术资料 无OS测试程序.rar
天嵌公司2440开发套件，无OS测试程序--NAND FLASH,
技术资料 测试的基础知识
测试的基础知识:1.掌握测试的基本概念2.了解测量误差及其不确定度概念3.了解测量数据处理的基本方法。1.1 测试的基本概念1、测量、计量与测试测量：以确定被测对象属性和量值为目的的全部操作。
技术资料 FPGA测试技术研究
论文首先介绍了SRAM型FPGA的典型代表XC4000系列的结构和主要特性，并对XC4000系列器件的配置模式和配置顺序做了简单介绍。根据XC4000系列器件各组成模块的功能和特点，可以将其分为可编程逻辑功能块(CLB)、输入输出功能块(IOB)、互连资源(IR)、可配置接口模块(CIM)和进位逻辑(CLM)等五大部分组成。 对于这五个功能模块， ...
技术资料 虚拟测试系统精度分析
虚拟测试系统精度分析:系统精度是体现整个系统水平的重要指标，对于虚拟测试系统的精度如何进行分析是个值得讨论的问题! 结合研制开发的永磁直流电动机虚拟测试系统，给出了分析精度的一般方法，对衡量系统