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技术资料 STM32(TM)ADC模式及其应用v1
STM32(TM)ADC模式及其应用v1，涵盖了STM32微控制器的模数转换器功能详解与实际应用案例。适合嵌入式系统开发者深入了解ADC配置、数据采集及处理技术。内容详实，示例丰富，是提升STM32项目开发能力的宝贵资料。
技术资料 51单片机控制ADC0809实现A/D转换
基于51单片机的ADC0809模拟信号采集方案，采用中断方式实现IN0通道连续十次采样，数据存储于以30H为起始地址的RAM区域，并通过P1口输出。适用于嵌入式系统中的A/D转换应用开发。
技术资料 ads6142低压差分信号和CMOS输出adc
难得一见的ADS6142完整技术资料，涵盖双倍速率低压差分信号与CMOS输出配置，适用于高速数据采集系统设计，是14位ADC应用的珍贵参考。
技术资料 2812的ADC模块提高精度的采样方法实现
基于TMS320F2812的ADC模块，提供经过实际项目验证的高精度采样方案，优化采样时序与校准逻辑，提升信号采集稳定性与分辨率，适用于工业控制与精密测量场景。
技术资料 基于AVR微控制器的ADC按键设计技巧
实战分享基于AVR微控制器的ADC按键设计方法，适用于嵌入式系统开发，代码可直接用于生产环境，经过多个项目验证，提升按键检测稳定性与响应速度。
技术资料 基于AVR微控制器的ADC按键设计技巧
实战级AVR微控制器ADC按键设计指南，包含去抖动处理、电压分压方案及代码优化技巧，适用于工业控制与嵌入式项目开发。
技术资料 arm-adc采样驱动例程-S3C2440
涵盖S3C2440平台ADC采样驱动的完整实现，基于Linux环境开发。提供从寄存器配置到数据采集的详细代码示例，适合嵌入式系统开发人员深入理解ADC工作原理与驱动编写方法。
软件设计/软件工程 实验1 JUnit用例测试 2 实验2 黑盒测试实验 7 实验3 黑盒测试实验 8 实验4 白盒测试 11 实验5 手机通讯录测试
实验1 JUnit用例测试 2
实验2 黑盒测试实验 7
实验3 黑盒测试实验 8
实验4 白盒测试 11
实验5 手机通讯录测试
系统设计方案 NI技术实现航空机载附件的技 术实现航空机载附件的技术实现航空机载附件的ATE测试测试测试测试
NI技术实现航空机载附件的技 术实现航空机载附件的技术实现航空机载附件的ATE测试测试测试测试
压缩解压 从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成（ATPG）工具 FastScan的 测试文档中提取出测试电路（CUT）的测试模式
从 Mentor Graphics 的自动测试图形生成（ATPG）工具 FastScan的
测试文档中提取出测试电路（CUT）的测试模式，生成便于对应压缩算法的文件
格式。 本文中， 给出了 2 种压缩测试模式的方法， 一种是基于统计的哈夫曼编码，
一种是基于差分运算的Golomb 编码。本次毕业设计中，在熟悉Mentor Graphics
ATPG工具 FastScan的 ...