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技术资料 74LS160逻辑功能测试电路及仿真.rar
本资源提供了74LS160逻辑功能测试电路的详细设计及仿真文件,适用于电子工程师、学生以及爱好者深入理解计数器的工作原理与应用。通过此套件,用户可以轻松搭建实验环境,进行实际操作和理论验证,非常适合教学和个人项目开发。内含完整的电路图、仿真模型及相关文档,支持免费下载,确保您能够无障碍地学习和使用。 ...
技术资料 用单片机制作电池容量测试仪
本资源提供了一套完整的基于单片机的电池容量测试仪设计方案,适用于电子工程、嵌入式系统开发等领域的学习与实践。通过详细的电路设计和程序代码示例,帮助工程师快速掌握如何利用单片机进行精确的电池性能评估。该方案不仅适合初学者入门学习,也能够作为高校学生毕业设计项目的参考案例。所有资料均免费提供下载,确保内 ...
技术资料 机载设备自动测试系统通用开发平台
在航空电子设备的测试与验证过程中,此通用开发平台提供了强大的支持。它能够帮助工程师们快速构建和定制自动测试系统,适用于各类机载设备的研发项目。该平台集成了丰富的测试功能模块,简化了从设计到实施的整个流程,提升了测试效率和准确性。 ...
技术资料 威纶触摸屏MODBUS协议的测试数据
在工业自动化项目中,这款资源适用于测试威纶触摸屏与设备之间的MODBUS通讯。通过这些详细的测试数据,开发者能够快速验证和调试MODBUS协议的实现,确保系统的稳定性和可靠性。无论是PLC编程还是HMI界面设计,这份资料都能提供宝贵的参考。 ...
技术资料 基于光电传感器的路径检测试验
利用光电传感器进行路径检测的实验方案,经过多次项目实践验证,适用于快速部署和调试。包含硬件选型、电路设计及代码示例,适合开发者直接应用到实际项目中,提高开发效率。
技术资料 STM32神州开发板源码双CAN测试
帮助开发者快速上手STM32双CAN通信,提供完整源码与测试案例,便于掌握CAN协议及多通道数据传输技术。
技术资料 8051ARM和DSP指令周期的测试与分析
基于实际测试数据,深入分析8051、ARM与DSP架构下的指令周期表现,揭示不同处理器在执行效率上的差异。采用精确测量方法和标准化流程,适用于嵌入式系统性能优化与教学研究。
技术资料 半导体激光器加速寿命测试系统研制
针对半导体激光器可靠性评估需求,本系统提供可直接用于生产环境的加速寿命测试方案。基于温度、电流等多参数控制,实现高效、稳定的老化模拟,经过多个项目验证,具备高复用性与工程落地价值。
技术资料 含存储器数字电路系统的测试
一套针对存储器数字电路系统的自动测试生成工具与方法合集,涵盖测试模式生成、故障诊断及验证流程,适用于集成电路设计与测试领域。
技术资料 基于LM3S615的RLC测试仪
适用于嵌入式系统开发与电子测量项目,基于LM3S615设计的RLC测试仪方案,提供精准的阻抗检测功能,适合用于教学与硬件调试场景。