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https://www.eeworm.com/dl/898849.html
技术资料
集成电路电磁骚扰测试方法
集成电路电磁骚扰测试方法:摘要：本文分析了高频数字集成电路产生电磁发射的原因及其电磁发射的测量原理，简要说明了集成电路电磁骚扰的几种测试方法及其理论依据，介绍了法拉第笼法与磁场探头法的
https://www.eeworm.com/dl/912908.html
技术资料
时序电路测试向量的压缩
时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余。针对此问题提出一种压缩算法，减少测试序列的总长度，从而减少了仿真的时间和ATE 设备的测试的时间，加速了测试的流程。实验结果表明，这种方法实现了较高的压缩效率， ...
https://www.eeworm.com/dl/915954.html
技术资料
门电路逻辑功能及测试实验
实验二 门电路逻辑功能及测试一、 实验目的1、 熟悉门电路逻辑功能2、 熟悉数字电路学习机及示波器使用方法二、&n
https://www.eeworm.com/dl/982301.html
技术资料
集成电路的封装与测试
BGA和CSP封装技术 BGA（Ball Grid Array）封装，即球栅阵列（或焊球阵列）封装
https://www.eeworm.com/dl/903832.html
技术资料
文件格式的相互转换!(转贴) 电路板测试网-电路板测试-电路板维修-电路板焊接-电路板设计
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https://www.eeworm.com/dl/856555.html
技术资料
基于LabVIEW的电路板功能测试系统，以上是测试系统的测试程序
基于LabVIEW的电路板功能测试系统，以上是测试系统的测试程序
https://www.eeworm.com/dl/684/390969.html
软件设计/软件工程
计数器74161功能测试电路状态机程序。该程序是功能测试电路的核心。
计数器74161功能测试电路状态机程序。该程序是功能测试电路的核心。