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找到约 14,953 项符合 环回测试 的查询结果

技术书籍 [测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND&nb

·[测试书籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI CIRCUITS 
https://www.eeworm.com/dl/537/14337.html
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技术书籍 锁相环频率合成器(Motorola 集成电路应用技术丛书)

·锁相环频率合成器(Motorola 集成电路应用技术丛书)
https://www.eeworm.com/dl/537/14424.html
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多媒体处理 H.263编解码原程序及测试程序源码(含测试序列)

·详细说明:H.263编解码原程序及测试程序源码,含测试序列,很难得的测试程序源代码.文件列表:   H.263编解码原程序及测试程序源码   ...............................\libr263   ...............................\.......\coder.c   ................. ...
https://www.eeworm.com/dl/521/14463.html
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多媒体处理 采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)

·采用G.729的语言实时通信DLL(含测试源代码)
https://www.eeworm.com/dl/521/14529.html
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技术书籍 锁相环频率合成器(Motorola 集成电路应用技术丛书)

·锁相环频率合成器(Motorola 集成电路应用技术丛书)
https://www.eeworm.com/dl/537/14604.html
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电机控制 《电机测试技术》

·何秀伟《电机测试技术》
https://www.eeworm.com/dl/577/14607.html
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电机控制 PMSM矢量控制电流环

·PMSM矢量控制电流环
https://www.eeworm.com/dl/577/14905.html
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技术书籍 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)

·书中包括的索引使你能够根据自己的需要,直接阅读你所关注的内容。主要内容包括:设计核心,关注嵌入核心和嵌入存储器;系统集成和超大规模集成电路的设计问题;AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计;内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST;虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计,包括重用和隔离测试;用V ...
https://www.eeworm.com/dl/537/14977.html
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技术书籍 [测试书籍]An_introduction_to_mixed_signal_ic_test_and_measurement

·[测试书籍]An_introduction_to_mixed_signal_ic_test_and_measurement
https://www.eeworm.com/dl/537/15076.html
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图形图像 做实验室测试的matlab指纹识别代码

·详细说明:做实验室测试的matlab指纹识别代码,主要测试了指纹的几种特征提取对识别的影响,可用来进行论文论证阶段的实验室使用,希望对初学者和广大在校生有帮助.文件列表:   fvsmatlabsourcecode   ...................\19_7.bmp   ...................\22443.bmp   ....... ...
https://www.eeworm.com/dl/575/15095.html
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