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测试测量 基于T-F变换的多点流体温度测量系统
针对一般测温方法在进行流体多点温度测量时存在系统复杂，准确度和速度难以兼顾的问题，提出了一种基于温度-频率（T-F）变换的测量系统。该系统使用PIC18F6722单片机控制MOS管开关阵列，使多个测点的热敏电阻分别与TLC555构成振荡电路，将测点的温度变化转化为振荡频率的变化，使用8253计数芯片对TLC555的输出信号进行测量 ...
测试测量 高精度温度测量铂电阻温度探测器(PRTDs)和ADC
Abstract: Many modern industrial, medical, and commercial applications require temperature measurements in the extended temperature rangewith accuracies of ±0.3°C or better, performed with reasonable cost and often with low power consumption. This article explains how platinumresistance ...
测试测量 准等精度多周期同步测频法及实现
准等精度多周期同步测频法及实现
测试测量 I2C适配器使用指南_BMP085大气压强测量
利用GINKGO I2C适配器的底层接口函数实现对I2C设备的读写控制，PC机与I2C适配器以USB的方式进行通信。最后将测量出来的环境大气压强和温度值在PC机上显示出来。
测试测量 基于太赫兹时域光谱的半导体材料参数测量
提出了一个考虑ＦＰ 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中，截取多个反射回峰，以提高材料参数提取的精确度。另外，考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高，提出了一种有效的厚度优化方法。以ＧａＡｓ 为待测样品，利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱.
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测试测量 低频数字式相位测量仪的设计
数字相位测量仪
测试测量 电子系统热管理设计与验证中的结温估算与测量
针对电子系统容易出现的热失效问题，论述在电子系统的热管理设计与验证中，对半导体器件结温的估算和测量方法。通过测量半导体器件内部二极管参数，来绘制二极管正向压降与其温度关系曲线，进而求解出器件的结温估算值，以指导热管理设计；采用热分布测量和极值测量来计算器件的实际结温，对热管理设计进行评估、验证。使用 ...
测试测量 纳米技术测量手册-纳米科学应用的电性测量指南
 
吉时利纳米技术测量手册：纳米科学的应用中的电子测量指南在纳米材料和器件的精确的低直流电和脉冲测量上提供了实际的帮助。它既可以作为参考也可以帮助理解实验室中观察到的低电流现象，同时提供了在低电流、高阻值、低电压和低阻值测量中理论和应用考虑的概括。 ...
测试测量 多通道在线电机温升测试和分析系统的设计
本系统可以准确快速地反映电机温度的变化状况,自动对电机温度数据进行有效地保存,改进了传统仪器测量的缺点,提高了检测精度和检测效率。