搜索结果

找到约 143 项符合 样品 的查询结果

单片机编程 芯睿单片机各类型号常用选型表

    龙启电子有限公司是台湾芯睿(Mikkon)总公司正式授权的大陆A级代理,是较早在内地推广MK系列单片机的公司。在芯睿8位单片机中,规模最大、开发力度和推广力度最强;是集单片机设计、开发、销售于一体的新型高新技术企业和软件企业,公司设有专门的研发部门,以及一系列先进的开发设备,配备多名极具专 ...
https://www.eeworm.com/dl/502/28962.html
下载: 152
查看: 1061

单片机编程 最新超低成本的8位5V单片机系列使嵌入式设计

•概述•主要特性的深入研究• RS08KB特性及应用• S08SF特性及应用• S08SV/FL特性及应用•易于使用的开发工具•样品和工具上市时间•获取优惠50%的DEMO9RS08KB12
https://www.eeworm.com/dl/502/29870.html
下载: 165
查看: 1010

单片机编程 基于单片机的AFM纳米机械性能测试系统

摘要:为解决采用原子力显微镜(AFM)系统进行纳米机械性能测试中存在的不能够直接获得载荷?压深曲线以及不能够随意改变加载、保载、卸载时间等问题,对AFM系统进行了改造,开发了一套基于单片机的信号输入输出模块。将该模块与AFM控制系统相联,形成新的纳米机械性能测试系统。该系统信号输出精度为0.15mV ...
https://www.eeworm.com/dl/502/30229.html
下载: 92
查看: 1039

单片机编程 2.4寸液晶屏资料及51单片机代码

2.4寸TFT 240370PQ 1.TFT电源:屏幕电源为2.8-3.3V;切记不能用5V; 2.本TFT兼容8/16位数据接口。切换方式通过排线上的R1,R2实现,0欧姆电阻短接R1为16位模式,短接R2为8位模式。默认发货短接R2,既默认为8位数据接口,8位模式下,使用高8位(即DB7-DB15); 3.数据口电平:理论上不能让数据口电平超过3.3V,如果一定要用5V的单片 ...
https://www.eeworm.com/dl/502/30256.html
下载: 48
查看: 1087

单片机编程 基于ADS1253的色谱仪数据采集系统设计

本文设计的色谱仪数据采集系统,采用24位AD芯片ADS1253对检测器输出的电压信号进行模/数转换,然后由单片机读取数据并传送给上位机。主要介绍了该系统的硬件和软件设计。其中,硬件电路运用了抗干扰设计,软件设计给出了程序框图。最后的实验结果表明,该系统采到的数据准确、可靠,保证了仪器检测出更多的样品组份。 ...
https://www.eeworm.com/dl/502/30807.html
下载: 71
查看: 1048

单片机编程 微控制器( MCU) 破解秘笈之中文有删节版

微控制器( MCU) 破解秘笈之中文有删节版 前言2/71 摘要5/71 除外责任5/71 第一章 简介 6/71 第二章 背景知识 7/71 2.1 硅芯片安全措施的演变 7/71 2.2 存储器的种类14/71 2.3 安全保护的类型 15/71 第三章 破解技术 18/71 3.1 简介 18/71 3.1.1 保护等级18/71 3.1.2 攻击种类19/71 3.1.3 攻击过程20/71 3.2 非 ...
https://www.eeworm.com/dl/502/31542.html
下载: 40
查看: 1051

机械电子 印制电路板雕刻机简介与适用范围

使用电路板雕刻机,可快速制作电路板样品,缩短研发时间,设备体积小不占空间,且无污染。它适合数字、模拟、RF及一般电路板的制作,可做到电路板钻孔、线路雕刻、外形切割一机多功。
https://www.eeworm.com/dl/572/36899.html
下载: 182
查看: 1085

工控技术 某光电装备电机驱动电路失效分析

驱动电路的性能很大程度上影响整个系统的工作性能。驱动电路的设计中主要考虑功能和性能等方面的因素。本文首先介绍了某平台的电机驱动电路,然后就实际工作及实验中驱动电路出现的失效信息作以分析,对问题进行总结: 导致样品失效原因是由于电机产生的反电动势使功率模块内部的三极管芯片产生表面击穿,致使电源与地短路, ...
https://www.eeworm.com/dl/569/40657.html
下载: 59
查看: 1034

测试测量 基于太赫兹时域光谱的半导体材料参数测量

提出了一个考虑FP 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中,截取多个反射回峰,以提高材料参数提取的精确度。另外,考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高,提出了一种有效的厚度优化方法。以GaAs 为待测样品,利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱. ...
https://www.eeworm.com/dl/544/41777.html
下载: 175
查看: 1040

测试测量 电子元器件加速寿命试验方法的比较

加速寿命试验分为恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验。将一定数量的样品分成几组,对每组施加一个高于额定值的固定不变的应力,在达到规定失效数或规定失效时间后停止,称为恒定应力加速寿命试验(以下简称恒加试验). ...
https://www.eeworm.com/dl/544/41786.html
下载: 189
查看: 1078