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电子书籍 @@ 2006年无损检测与探伤应用技术标准手册 3521页 58.8M.pdf
测试技术专辑 134册 1.93G@@ 2006年无损检测与探伤应用技术标准手册 3521页 58.8M.pdf
电子书籍 数字测量系统的标准接口 111页 1.9M.pdf
测试技术专辑 134册 1.93G数字测量系统的标准接口 111页 1.9M.pdf
电子书籍 @@ 现代无损检测新技术新工艺与应用技术标准大全2 3140页 59.7M.pdf
测试技术专辑 134册 1.93G@@ 现代无损检测新技术新工艺与应用技术标准大全2 3140页 59.7M.pdf
技术资料 CPU可测试性设计
可测试性设计（Design-For-Testability，DFT）已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中，可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU，综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片设计中的各种可测试性方法，包括扫描设计 ...
技术资料 数字电子技术基础实验+标准集成电路数据手册TTL电路 高速CMOS电路接口电路
数字电子技术基础实验+标准集成电路数据手册--TTL电路 高速CMOS电路接口电路 电子书4本合集电子、通信、计算机、信息与自动控制等专业开设的《数字电子技术
基础》及其实验等专业基础课，旨在加深学生对理论知识的理解，培养学
生分析、设计、组装和调试数字电路的基本技能，掌握科学的实验方法，
为以后其它专业课的学习打 ...
技术资料 MIPI的测试测量技术
M|P|标准综述MPHY概况MPHY的测试测试」RX测试s参数和阻抗测试DigRF.UniPro和L协议的测试