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技术资料 电子元器件的防浪涌应用
电子元器件的防浪涌应用 电浪涌引起的电过应力(EOS)损伤或烧毁是电子元器件在使用过程中最常见的失效模式之一。
技术资料 航天继电器可靠性评估方法
航天继电器可靠性评估方法
摘要:航天继电器造价昂贵,可靠性要求极高,其工作寿命的试验样本具有“小子样、零失效” 的特点。工程中迫切需要对这类产品
技术资料 AEC-Q100G 中文资料
本文件包括了一系列应力测试失效机理、 最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。 这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效, 目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。 这组测试应该是有区别的使用,每个认证方案应检查以下: a、任何潜在新的和独特的失效机理;b、任何应用中无显现但测试或条件可能会 ...
技术资料 可靠性灵敏度分析的一种新方法.pdf
基于极限状态函数矩估计的失效概率计算, 提出一种新的可靠性灵敏度分析方法。推导极限状态函
数的矩对基本变量分布参数的偏导数,并进而利用失效概率与极限状态方程矩的关系, 推导失效概率对基本
变量分布参数的偏导数,从而得到可靠性灵敏度。与改进一次二阶矩可靠性灵敏度分析方法相比, 所提方法
不用求极限状态方程的设计 ...
技术资料 一种信号源个数估计的新方法
一种信号源个数估计的新方法在常用的阵列测向算法中,一般认为信号源数是先验参数,当信号源数估计错误时,方位估计的性能会严重下
降,甚至完全失效。
技术资料 AVR熔丝位的设置和详细拯救方法
适用于嵌入式系统调试与硬件配置的场景,AVR熔丝位设置直接影响芯片功能和安全性。掌握熔丝位配置与修复方法,是解决芯片失效、启动异常等问题的关键技术。
技术资料 AVR101高效持久EEPROM存储
想要在 AVR 设备中实现高效且持久的 EEPROM 存储?本文介绍如何通过环形缓冲区技术延长 EEPROM 寿命,解决因频繁写入导致的磨损问题,同时确保系统在电源失效等异常情况下仍能正确恢复数据。