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技术资料 半导体行业深度报告IGBT功率半导体研究框架

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技术资料 美国国家半导体功放芯片详解

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技术资料 硅基GaN功率半导体技术总结

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技术资料 半导体器件物理-负阻器件 功率器件 光电器件

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技术资料 SiC功率半导体器件的优势及发展前景总结

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技术资料 4mm腔长高功率单管半导体激光器封装应力的研究

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技术资料 半导体市场分析报告剖析

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技术资料 基于UCC27322的中功率半导体激光器驱动电路设计(精)总结

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技术资料 利用可蒸发的介电流体冷却汽车动力系统中的IGBT功率半导体

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技术资料 半导体云讲堂——宽禁带半导体(GaN SiC)材料及器件测试

半导体云讲堂——宽禁带半导体(GaN、SiC)材料及器件测试宽禁带半导体材料是指禁带宽度在3.0eV及以上的半导体材料, 典型的是碳化硅(SiC)、 氮化镓(GaN)、 金刚石等材料。 宽禁带半导体材料被称为第三代半导体材料。四探针技术要求样品为薄膜样品或块状, 范德堡法为更通用的四探针测量技术,对样品形状没有要求, 且不需 ...
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