使用过采样增加ADC精度

Atmel的AVR单片机提供了10位精度的模拟到数字转换器。在大多数情况10位精度已经足够了，但是某些情况下需要更高的精度。特殊的信号处理技术可以用来提高测量的精度。使用一种称为“过采样和抽取”的方法

过采样技术->使用过采样增加ADC精度.pdf

过采样技术->使用过采样技术提升 STM32 的 ADC 采样精度.pdf

过采样技术->使用过采样技术提升 STM32 的 ADC 采样精度.zip

提供《采用过采样技术实现16位精度温度采样 采用过采样技术实现16位精度温度采样 采用过采样技术实现16位精度温度采样》完整技术工程技术资料下载（归档大小 4 K），包含相关硬件原理图参考、开发文档或源代码工程。

通过过采样技术，AVR121实现对AVR单片机10位ADC的精度提升，基于信号处理原理优化采样率与数据平均，有效提高转换分辨率。适用于高精度测量场景。