基于SOC的智能射频网络分析仪的研制

在无线电测量中"，经常碰到的问题是对网络的阻抗和传输特性的测量。这里所说的传输特性，主要是指：增益和衰减、幅频特性、相位特性和时延特性。最初，这些网络参数的测量采用的是点频测量的方法，即在固定频率点上逐点进行测量，测量较为简单，因此对测量设备的性能要求不是很高。随着系统及元器件逐步向宽频带方向发展，常常需要在所要求的宽频带内多个频率点上进行测量才能了解被测器件的宽频带特性。早期的测量设备不仅只能做点频测量，而且每个频率点测量所消耗的时间也比较长，这样在测量宽频带器件时就显得非常繁琐，工作效率低，并且常常会因为测量频率点选取的疏密不同而影响测量结果，特别是对于某些特性曲线的锐变部分以及个别失常点，很可能会由于测量频率点选取不到而使得测量结果不能反映真实结果。基于上述原因，扫频测量技术得以出现并飞速发展。在扫频测量中，用扫频信号--个频率随时间按一定规律，在一定频率范围内扫动的信号代替以往使用的固定频率信号，可以对被测网络进行快速、定性或定量的动态测量，给出被测网络的阻抗特性和传输特性的实时测量结果。随着电子计算机技术和微电子学的发展，微处理器在扫频测量装置中逐渐被采用，使扫频测量可以达到更高的则量精确度

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