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低功耗测试矢量生成技术的研究 - 资源详细说明
在集成电路内建自测试的过程中，电路的测试功耗通常显著高于正常模式产生的功耗，因此低功耗内建自测试技术已成为当前的一个研究热点。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率，研究了一种随机单输入跳变（Random Single Input Change，RSIC）测试向量生成器的设计方案，利用VHDL语言描述了内建自测试结构中的测试向量生成模块，进行了计算机模拟仿真并用FPGA（EP1C6Q240C8）加以硬件实现。实验结果证实了这种内建自测试原理电路的正确性和有效性。
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