摘要:介绍了一种真空冷冻干燥试验仪的温度控制器设计，以AT89C52为控制核心，选用PT100传感器，MC14433A/D，利用增量式PID算法来完成对电机执行机构的运动控制，从而实现温度的精确控制。 关键字:温度传感器，单片机，温度控制器
上传时间： 2013-10-11
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cop2000试验仪的模拟器，主要用于组成原理实验
上传时间： 2013-12-17
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试验仪自检程序，适合初学者直接下载，直接安装皆可
上传时间： 2013-12-20
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XLISP 系列单片机综合仿真试验仪（以下简称 XLISP 系列）是深圳市学林电子有限公司综合多年经验开发出的多功能 8051 单片机平台（兼容 AVR/PIC 单片机的部 份烧写实验功能）。本系列目前包含 XL600 单片机试验仪和 XL1000 USB 型单片机实验仪，集成常用的单片机 外围硬件，ISP 下载线，单片机仿真器， 单片机试验板，编程器功能于一身，特别适合新手学习使用！ 第一章:XLISP 系列 单片机综合仿真试验仪系统简介 1．1 系统简介……………………………………………………………2 1． 2 各个模块接口的定义……………………………………………3 第二章： 快速入门篇- 跟我来用 XLISP 系列作跑马灯实验 2．1 软件安装介绍………………………………………………………5 2．2 软件操作……………………………………………………………6 第三章 USB 接口安装指南（仅限 XL1000） 3．1 USB 驱动程序安装…………………………………………………8 3.2 特别情况下的 usb安装……………………………………………10 第四章 ISP 下载部份的应用 4．1 ISP 下载部份介绍…………………………………………11 4．2 XLISP 系列下载头之插头定义………………………………12 4．3 常用芯片的 ISP 相关引脚连接方法……………………………13 第五章 XLISP 系列 仿真操作指南 5.1 仿真概述…………………………………………………………14 5.2 KEIL UV2 软件操作指南…………………………………………15 第六章：XLISP 系列单片机系统实验 MCS-51 单片机引脚说明………………………………………………17 实验 1 最简单的八路跑马灯………………………………………18 实验 2 用 XLISP 系列试验仪做一个 8 路彩灯控制器…………20 实验 3 8 路指示灯读出 8 路拨动开关的状态……………………21 实验 4 数码管静态扫描 …………………………………………22 实验 5 数码管动态扫描显示 01234567……………………………23 实验 6 端口按键判断技术（按键显示数字）………………………26 实验 7 矩阵按键识别技术……………………………………………27 实验 8 74LS14 反向器实验………………………………………………29 实验 9 74LS138 38 译码器部分实验………………………………30 实验 10 74LS164 串入并出实验 ……………………………………31 实验 11 74LS165 并入串出实验 ………………………………………32 实验 12 DA 转换 dac0832 的原理与应用………………………………34 实验 13 模拟/数字转换器 ADC0804………………………………………36 实验 14 小喇叭警报器试验………………………………………………38 实验 15 红外线遥控试验…………………………………………………39 实验 16 汉字显示屏显示倚天一出宝刀屠龙（仅限 XL1000）…………42 实验 17 1602 液晶显示屏显示 A……………………………………44 实验 18 8155 试验（仅限 XL1000）…………………………………46 实验 19 24C02 储存开机次数实验 ……………………………………48 实验 20 步进电机实验…………………………………………………50 实验 21 93c46 演示程序 …………………………………………………………51 实验 22 串行双向通信实验 ……………………………………………53 实验 23 综合实验 18B20 数字温度显示系统…………………………55 第七章 怎样产生 hex 文件？ Dais 集成开发环境使用………………58 第八章 常见问题解答 60 第九章 系统配置和售后服务指南…………………………………61 部分配套的例子程序说明………………………………………………62
上传时间： 2013-11-13
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一个单片机串行EEPROM AT24C01扩展试验，在我们试验仪上运行很好
上传时间： 2013-12-11
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EU系列单片机综合仿真试验仪（以下简称EU系列）是温州市益友电子有限公司）综合多年经验开发出的多功能 8051 单片机平台（兼容 AVR/PIC 单片机的部 份烧写实验功能）。本系列目前包含 EU2000 单片机试验仪和 EU2000 USB 型单片机实验仪，集成常用的单片机外围硬件，ISP 下载线，单片机仿真器，单片机试验板，编程器功能于一身，特别适合新手学习使用！
标签： 51;编程；单片机
上传时间： 2015-06-17
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eeworm.com VIP专区 单片机源码系列 52资源包含以下内容：1. C8051F单片机教学实验机简介.pdf2. 基于ADUC812单片机的LonWorks智能节点设计.pdf3. KFB130单片机开发板简介.pdf4. 单片机教材习题.pdf5. 基于89C52单片机的电子点歌系统设计.pdf6. 利用80C31单片机串行口实现多个LED显示的一种简单方法.pdf7. 基于单片机控制的小车平衡系统设计.pdf8. 单片机在电力系统安全统计上的应用.pdf9. MCS-51单片机系统扩展技术.pdf10. 基于单片机的家用电器远程电话控制系统的实现.pdf11. 单片机原理与应用.pdf12. 日电电子16位单片机--78K0R.pdf13. 基于STC12C系列单片机的DS18B20编程.pdf14. 《单片机原理及应用实验》教学大纲--淮阴师范.pdf15. MCS-51单片机基础班培训教材.pdf16. 基于Proteus的单片机实时时钟的仿真设计.pdf17. 单片机原理及应用--ATMEGA16的C语言开发及应用.pdf18. 单片机串行口的工作方式.pdf19. 基于PIC单片机的冷库温度测控系统的研制.pdf20. 《单片机原理及应用课程设计》教学大纲.pdf21. 基于PIC单片机的焊接防触电装置的开发.pdf22. 单片机原理及应用技术.pdf23. 一种基于单片机的机床位移检测系统.pdf24. 单片机技术应用教程.pdf25. 基于Avalon总线的8051MCU IP核的设计.pdf26. 基于AT89S51的数控机床光栅尺位移测量系统.pdf27. 单片机温度控制系统.pdf28. 基于单片机的CF卡复制系统.pdf29. 一种新的基于瞳孔--角膜反射技术的视线追踪方法.pdf30. 用C51实现无功补偿中电容组循环投切的算法.pdf31. Z8E000单片机在暖风机中的应用.pdf32. 80X86微处理器.ppt33. 网上学单片机（入门篇）.pdf34. 《单片机与接口技术》课程实验指导书.pdf35. 单片机仿真机使用说明.pdf36. 单片机培训、电子公共实验室.pdf37. 单片机实践培训实习班.pdf38. 单片机实验课案例简介.pdf39. 加速器控制技术.pdf40. 单片机控制系统中一种新颖温度"数字化"的.pdf41. 单片机在高压测试仪中的应用.pdf42. 单片机IO口的使用.pdf43. STL215单片机技术规格书.pdf44. 单片机快速入门——按键、继电器、蜂鸣器篇.pdf45. SONIX 8位OTP型单片机烧录器用户手册.pdf46. PLH-312型单片机开发板简介.pdf47. 基于单片机的真空冷冻干燥试验仪温度控制器设计.pdf48. 数字逻辑电路、单片机及EDA综合实验箱简介.pdf49. MSP430F2系列16位超低功耗单片机模块原理--CPU.pdf50. 串口与单片机通讯问题.pdf51. PIC 8位单片机的特点.pdf52. DS18B20在ME300B单片机开发系统的应用实例.pdf53. 模拟试题:单片机技术试题.pdf54. PHILIPS单片机ISP功能快速入门.pdf55. SST89E564RD单片机介绍.pdf56. SN65LBC170,SN75LBC170,pdf(TRIP.pdf57. PHILIPS公司80C51系列单片机与众不同的4大特点是什.pdf58. SST89系列单片机介绍.pdf59. MC9S12X系列单片机开发工具包.pdf60. PC机与MCS51单片机串行通信接口电路的设计.pdf61. MCS-51单片机在直流电机闭环调速系统中的应用.pdf62. HT48RA0-2,HT48RA0-1，HT48RA1,HT.pdf63. P89LPC932A1 Flash单片机使用指南.pdf64. 8位OTP单片机芯片MC10P23XXY管脚与三星9454完.pdf65. PROG430专业MSP430单片机编程器（USB型）使用说.pdf66. 8-bit 80C51 Flash系列单片机--P89C66.pdf67. MCS-51单片机汇编语言中的伪指令.pdf68. PowerWise技术推动新世代便携式装置.pdf69. P87LPC768 OTP单片机数据手册.pdf70. 8031单片机较小系统的制作与应用.pdf71. MSP430F2系列16位超低功耗单片机模块原理--FLAS.pdf72. ISD1700-51单片机C语言示例程序.pdf73. 基于VB与单片机串行通信的数据采集系统设计.pdf74. HT48R10A-1/HT48R30A-1/HT48R50A.pdf75. 单片机项目教学改革总结和规划.pdf76. EM78系列单片机仿真系统使用说明.pdf77. 基于单片机的语音数字联网火灾报警器设计.pdf78. 基于ADS8364和ARM7单片机的导航姿态角采集系统设计.pdf79. 基于SX单片机的嵌入式远程温度控制系统.pdf80. 《基于MSP430单片机的开发学习板》项目计划书.pdf81. 如何防止AVR单片机假死.pdf82. HT4/48C/49C系列MASK单片机选型指南.pdf83. 汽车发动机电控系统的结构与维修(A)试题.pdf84. HHD1A系列数显智能型电动机监控器使用说明书.pdf85. 基于单片机的串行通信.pdf86. AVR单片机及嵌入式系统--单片机原理及接口技术.pdf87. 单片机在线仿真器的使用.pdf88. 用51单片机控制RTL8029实现以太网通信.pdf89. 《单片机应用技术》笔试试题样卷.pdf90. HCS08系列单片机的低功耗特性.pdf91. AD2S1200YSTZ资料.pdf92. 单片机技术及应用参考答案.pdf93. 基于带PWM模块单片机的步进电机细分驱动技术.pdf94. 《单片机原理与应用》实验教学大纲.pdf95. 《单片机应用设计》实验教学大纲.pdf96. 基于STM32的脉冲变极性弧焊控制系统设计.pdf97. 基于温度梯度驱动的液滴传输行为研究.pdf98. 基于S12X的直流无刷电机反电势控制方法.pdf99. Wang1jin带您从零学单片机--定时器部分.pdf100. 8位OTP单片机芯片CM5001产品规格书.pdf
标签： 电力电子技术
上传时间： 2013-04-15
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随着汽车电子和现代化交通的飞速发展，人们对汽车的行驶性能和安全性能提出了更高的要求。在汽车测试试验中使用记录仪，可以实现实时测量，控制汽车的车速，对超速进行报警，满足汽车试验中对汽车运行情况的了解，特别是根据汽车试验要求而制定的试车计划得到的准确实施，从而进一步提高汽车制造商的市场竞争力。 随着微电子技术的发展，超大规模集成电路技术的成熟，嵌入式计算机系统的功能越来越强大，在某些场合完全可以取代传统的工控机，并且其独特的优势在于它的体积小、功耗低、性价比高，便于携带，使得它非常适合应用到汽车试验记录仪中。 本论文在嵌入式系统平台的构建中做了探索性研究，以汽车试验记录仪的发展和功能要求为目标，以嵌入式计算机系统的硬件设计入手，深入研究了嵌入式计算机硬件系统设计和电磁兼容性问题和能够长时间可靠运行的嵌入式计算机主板。主要模块包括电源、复位、JATG模块，数据存储模块、数据通信模块、数据采集模块、人机交互模块。 在软件部分，实现了嵌入式计算机系统的引导程序(u-boot-1.1.4)的移植，嵌入式Limux2.6.14内核的移植，根文件系统的制作，新增硬件驱动程序编写以及嵌入式图形界面GUI系列MiniGUI的移植，完成了嵌入式计算机系统从硬件到软件系统平台的构建。 目前，国内市场上缺乏专门应用与汽车试验中的记录仪，本文设计中的汽车记录仪正是基于此目的而设计和研制的，该新型的汽车试验记录仪使用方便，性价比高，适用于国内中小型汽车制造厂商。
上传时间： 2013-04-24
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随着半导体工艺的飞速发展和芯片设计水平的不断进步，ARM微处理器的性能得到大幅度地提高，同时其芯片的价格也在不断下降，嵌入式系统以其独有的优势，己经广泛地渗透到科学研究和日常生活的各个方面。 本文以ARM7 LPC2132处理器为核心，结合盖革一弥勒计数管对Time-To-Count辐射测量方法进行研究。ARM结构是基于精简指令集计算机(RISC)原理而设计的，其指令集和相关的译码机制比复杂指令集计算机要简单得多，使用一个小的、廉价的ARM微处理器就可实现很高的指令吞吐量和实时的中断响应。基于ARM7TDMI-S核的LPC2132微处理器，其工作频率可达到60MHz，这对于Time-To-Count技术是非常有利的，而且利用LPC2132芯片的定时/计数器引脚捕获功能，可以直接读取TC中的计数值，也就是说不再需要调用中断函数读取TC值，从而大大降低了计数前杂质时间。本文是在我师兄吕军的《Time-To-Count测量方法初步研究》基础上，使用了高速的ARM芯片，对基于MCS-51的Time-To-Count辐射测量系统进行了改进，进一步论证了采用高速ARM处理器芯片可以极大的提高G-M计数器的测量范围与测量精度。 首先，讨论了传统的盖革-弥勒计数管探测射线强度的方法，并指出传统的脉冲测量方法的不足。然后讨论了什么是Time-To-Count测量方法，对Time-To-Count测量方法的理论基础进行分析。指出Time-To-Count方法与传统的脉冲计数方法的区别，以及采用Time-To-Count方法进行辐射测量的可行性。 接着，详细论述基于ARM7 LPC2132处理器的Time-To-Count辐射测量仪的原理、功能、特点以及辐射测量仪的各部分接口电路设计及相关程序的编制。 最后得出结论，通过高速32位ARM处理器的使用，Time-To-Count辐射测量仪的精度和量程均得到很大的提高，对于Y射线总量测量，使用了ARM处理器的Time-To-Count辐射测量仪的量程约为20 u R/h到1R/h，数据线性程度也比以前的Time-To-CotJnt辐射测量仪要好。所以在使用Time-To-Count方法进行的辐射测量时，如何减少杂质时间以及如何提高计数前时间的测量精度，是决定Time-To-Count辐射测量仪性能的关键因素。实验用三只相同型号的J33G-M计数管分别作为探测元件，在100U R/h到lR/h的辐射场中进行试验.每个测量点测量5次取平均，得出随着照射量率的增大，辐射强度R的测量值偏小且与辐射真实值之间的误差也随之增大。如果将测量误差限定在10％的范围内，则此仪器的量程范围为20 u R/h至1R/h，量程跨度近六个数量级。而用J33型G-M计数管作常规的脉冲测量，量程范围约为50 u R/h到5000 u R/h，充分体现了运用Time-To-Count方法测量辐射强度的优越性，也从另一个角度反应了随着计数前时间的逐渐减小，杂质时间在其中的比重越来越大，对测量结果的影响也就越来越严重，尽可能的减小杂质时间在Time-To-Count方法辐射测量特别是测量高强度辐射中是关键的。笔者用示波器测出此辐射仪器的杂质时间约为6.5 u S，所以在计算定时器值的时候减去这个杂质时间，可以增加计数前时间的精确度。通过实验得出，在标定仪器的K值时，应该在照射量率较低的条件下行，而测得的计数前时间是否精确则需要在照射量率较高的条件下通过仪器标定来检验。这是因为在照射量率较低时，计数前时间较大，杂质时间对测量结果的影响不明显，数据线斜率较稳定，适宜于确定标定系数K值，而在照射量率较高时，计数前时间很小，杂质时间对测量结果的影响较大，可以明显的在数据线上反映出来，从而可以很好的反应出仪器的性能与量程。实验证明了Time-To-Count测量方法中最为关键的环节就是如何对计数前时间进行精确测量。经过对大量实验数据的分析，得到计数前时间中的杂质时间可分为硬件杂质时间和软件杂质时间，并以软件杂质时间为主，通过对程序进行合理优化，软件杂质时间可以通过程序的改进而减少，甚至可以用数学补偿的方法来抵消，从而可以得到比较精确的计数前时间，以此得到较精确的辐射强度值。对于本辐射仪，用户可以选择不同的工作模式来进行测量，当辐射场较弱时，通常采用规定次数测量的方式，在辐射场较强时，应该选用定时测量的方式。因为，当辐射场较弱时，如果用规定次数测量的方式，会浪费很多时间来采集足够的脉冲信号。当辐射场较强时，由于辐射粒子很多，产生脉冲的频率就很高，规定次数的测量会加大测量误差，当选用定时测量的方式时，由于时间的相对加长，所以记录的粒子数就相对的增加，从而提高仪器的测量精度。通过调研国内外先进核辐射测量仪器的发展现状，了解到了目前最新的核辐射总量测量技术一Time-To-Count理论及其应用情况。论证了该新技术的理论原理，根据此原理，结合高速处理器ARM7 LPC2132，对以G-计数管为探测元件的Time-To-Count辐射测量仪进行设计。论文以实验的方法论证了Time-To-Count原理测量核辐射方法的科学性，该辐射仪的量程和精度均优于以前以脉冲计数为基础理论的MCS-51核辐射测量仪。该辐射仪具有量程宽、精度高、易操作、用户界面友好等优点。用户可以定期的对仪器的标定，来减小由于电子元件的老化对低仪器性能参数造成的影响，通过Time-To-Count测量方法的使用，可以极大拓宽G-M计数管的量程。就仪器中使用的J33型G-M计数管而言，G-M计数管厂家参考线性测量范围约为50 u R/h到5000 u R/h，而用了Time-To-Count测量方法后，结合高速微处理器ARM7 LPC2132，此核辐射测量仪的量程为20 u R/h至1R/h。在允许的误差范围内，核辐射仪的量程比以前基于MCS-51的辐射仪提高了近200倍，而且精度也比传统的脉冲计数方法要高，测量结果的线性程度也比传统的方法要好。G-M计数管的使用寿命被大大延长。 综上所述，本文取得了如下成果：对国内外Time-To-Count方法的研究现状进行分析，指出了Time-To-Count测量方法的基本原理，并对Time-T0-Count方法理论进行了分析，推导出了计数前时间和两个相邻辐射粒子时间间隔之间的关系，从数学的角度论证了Time-To-Count方法的科学性。详细说明了基于ARM 7 LPC2132的Time-To-Count辐射测量仪的硬件设计、软件编程的过程，通过高速微处理芯片LPC2132的使用，成功完成了对基于MCS-51单片机的Time-To-Count测量仪的改进。改进后的辐射仪器具有量程宽、精度高、易操作、用户界面友好等特点。本论文根据实验结果总结出了Time-To-Count技术中的几点关键因素，如：处理器的频率、计数前时间、杂质时间、采样次数和测量时间等，重点分析了杂质时间的组成以及引入杂质时间的主要因素等，对国内核辐射测量仪的研究具有一定的指导意义。
标签： TimeToCount ARM 辐射测量仪
上传时间： 2013-06-24
上传用户：pinksun9
区截装置测速法是现代靶场中弹丸测速的普遍方法，测时仪作为区截装置测速系统的主要组成部分，其性能直接影响弹丸测速的可靠性和精度。本文根据测时仪的发展现状，按照设计要求，设计了一种基于单片机和FPGA的高精度智能测时仪，系统工作稳定、操作方便、测时精度可达25ns。 本文详细给出了系统的设计方案。该方案提出了一种在后端用单片机处理干扰信号的新方法，简化了系统硬件电路的设计，提高了测时精度；提出了一种基于系统基准时间的测时方案，相对于传统的测时方法，该方案为分析试验过程提供了有效数据，进一步提高了系统工作的可靠性；给出了一种输入信息处理的有效方法，保证了系统工作的稳定性。 本文设计了系统FPGA逻辑电路，包括输入信号的整形滤波、输入信号的捕捉、时基模块、异步时钟域间数据传递、与单片机通信、单片机I/O总线扩展等；实现了系统单片机程序，包括单片机和。FPGA的数据交换、干扰信号排除和弹丸测速测频算法的实现、LCD液晶菜单的设计和打印机的控制、FLASH的读写、上电后对FPGA的配置、与上位机的通信等；分析了系统的误差因素，给出了系统的误差和相对误差的计算公式；通过实验室模拟测试以及靶场现场测试，结果表明系统工作可靠、精度满足设计要求、人机界面友好。
上传时间： 2013-07-25
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