测试压缩

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时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余。针对此问题提出一种压缩算法,减少测试序列的总长度,从而减少了仿真的时间和ATE 设备的测试的时间,加速了测试的流程。实验结果表明,这种方法实现了较高的压缩效率,

2024-01-19 8 测试压缩

近年来,随着电子科学技术的进步,图像数据量日益庞大,有限的信道容量与传输大量图像数据的需求之间的矛盾日益突出,给数据的传输和存储带来了极大的困难。图像压缩技术作为解决这一问题的有效途径,受到越来越多的重视。JPEG2000是目前业界公认最好...

2024-07-02 8 测试压缩

提出一种随机存取扫描测试方法,对扫描单元进行相容处理,以形成新的测试集合。结合RandomAccess Scan 结构特性,对该测试集合进行优化,同时解决在测试工作中面临的测试数据量、测试功耗、测试时

2024-01-06 3 测试压缩