外观检测
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半导体芯片外观视觉检测系统的研究与开发
机器视觉在工业检测中已经得到了广泛的应用，本文针对某大型半导体企业在芯片检测过程中的实际需求及遇到的困难，利用机器视觉的优点，设计了一套基于机器视觉技术的半导体芯片外观检测系统，实现对出厂芯片连续、高效、快速的外观检测，提高了检测效率、节约...