半径测量
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半导体C-V测量基础是一份系统讲解电容-电压测量原理与应用的技术文档，涵盖半导体器件特性分析、测量方法及数据解读，适用于微电子与半导体领域的研究人员和工程师。
2026-03-12
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衍射法测量细丝直径
利用两次衍射装笠，软件编程数字涛波技术代替硬件电路及简单的暗纹位王识别和平均技米，较好解决了衍封法$>11qt细丝直径实用中的有关问题，对118 pm的漆包线实浏结果达到了lpm
2024-03-10
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用8098单片机监测滚轮法测量大直径
本文对大直径测量中的滚轮打滑问题进行了分析和探讨,提出了用分段取值的方法对打滑段进行补偿,利用8098单片机的HSO软件定时器中断、HSI.0中断、设定HSI.1为T2的外部记数源分别完成分段取值、测量控制和数据采集工作.文章论述了系统的软...
2025-02-03
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