p-si-lcd
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查看全部 500 份 →p-n结的隧道击穿模型研究
在理论模型的基础上探讨了电子势垒的形状以及势垒形状随外加电压的变化, 并进行定量计算, 得出隧穿电压随杂质掺杂浓度的变化规律。所得结论与硅、锗p-n 结实验数据相吻合, 证明了所建立的理论模型在定量 研究p-n 结的隧道击穿中的合理性与实用...
2013-10-31
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LIST p=16F84 PIC16F844 is the target processor #include "P16F84.INC" Include
LIST p=16F84 PIC16F844 is the target processor #include "P16F84.INC" Include header file ...
2017-07-09
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Introduction to probability solution Dimitri P. Bertsekas and John N Tsitsiklis MIT
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2014-01-15
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