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半导体C-V测量基础是一份系统讲解电容-电压测量原理与应用的技术文档,涵盖半导体器件特性分析、测量方法及数据解读,适用于微电子与半导体领域的研究人员和工程师。
2026-03-12
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3-V TO 5.5-V MULTICHANNEL RS-2
The MAX3243E device consists of three line drivers, five line receivers, and a dual charge-pump circuit with±15-kV ESD (...
2013-10-19
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CRC16_D8.v
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2024-01-07
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crc32.v
CRC-32校验程序, CRC-32(X32 + X26 + X23 + X22 + X16 + X12+ X11 + X10 + X8 + X7 + X5 + X4 + X2 + X1 + X0 )
2025-03-28
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