USB扫描枪
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边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。
2024-05-24
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基于USB接口的边界扫描测试控制器设计
·摘要： 边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计技术,它以特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍,能大大提高数字电路的可测试性;采用DSP和边界扫描总线控制芯片74LVT8980设计了边界扫描测试控制器,该控...
2024-06-13
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