USB+View技术资料

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为实现十倍于 USB 2.0的传输速度,必须使用更先进的工艺来设计和制造 USB 3.0控制芯 片,这也造成 USB 3.0的控制芯片对静电放电(ESD)的耐受能力快速下降。此外,当 USB 3. ...

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进行USB Type-C Alt 模式的一致性测试时,工程师会面临更多的测试项目。使用最佳的 仪器、测试夹具和软件,您便可从容地应付大量的测试,同时还可简化测试配置、让信号 生成和测量结果更为精准...

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