SC-2
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基于51MCU的IDE硬盘语音记录器.是使用AT89C52 2个51 MCU制作的语音记录器
基于51MCU的IDE硬盘语音记录器.是使用AT89C52 2个51 MCU制作的语音记录器，在系统中不需要地址锁存器，也不需要译码器。系统设计有IDE接口，128*64 LCD接口，红外遥控，语音声卡接口。
2015-05-03
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用MATLAB语言编写的基2 DIT FFT子程序& 用简单的速度很低的方法计算DFT
用MATLAB语言编写的基2 DIT FFT子程序& 用简单的速度很低的方法计算DFT
2014-01-11
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GBT2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法 试验zabdm：气候顺序.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范（国标、行标、安规、规范）->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.45-1997 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法 试...
2024-08-16
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GBT2423.22-2002 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法 试验n 温度变化.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范（国标、行标、安规、规范）->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.22-2002 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法 试...
2024-10-20
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GBT2423.01-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验a 低温试验方法.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范（国标、行标、安规、规范）->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.01-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验a ...
2024-11-24
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GBT2423.02-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验b 高温试验方法.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范（国标、行标、安规、规范）->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.02-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验b ...
2024-12-06
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GBT2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法 试验ef：撞击摆锤.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范（国标、行标、安规、规范）->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.46-1997 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法 试...
2024-12-09
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文法如下: (1)S->aAcBe (2)A->b (3)A->Ab (4)B->d 關於lr0的語法分析
文法如下: (1)S->aAcBe (2)A->b (3)A->Ab (4)B->d 關於lr0的語法分析
2015-11-22
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