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Re-initialization

  • EMI测试及相关资料

    一、简介目前,涉及到EMI测试的相关标准,主要为:欧规(EN55022),美规(FCC)相关名词:非故意辐射(Unintentional):产品产生不想要的电磁波辐射,造成干扰;如:电脑,LCD Monitor,DVD,电视,投影机等;故意辐射(intentional):使用无线电波进行通信;FCC只测试EMl:RE(辐射干扰):测试频率范围30MHZ~1GHZ;CE(电源干扰):测试频率范围150KHZ~30MHZ;主要的EMI测试参考标准:欧盟:EN55022(EMI参考测试标准);EN55024(EMS参考测试标准);美国:FCC Part 15B(EMI参考测试标准);台湾:CNS13438(EMl参考测试标准)二、测试EMI 测试定义:测试待测物EUT产生的辐射干扰强度,分为RE测试和CE测试两种。1)、RE测试:量测EUT产生的辐射干扰,其测试频率范围:30MHZ~1GHZ。测试方法:参考相关测试标准EN55022或者其他测试标准;测试距离及场合:10米量测,在开放式场合;测试方式:量测EUT产生的电磁波辐射(30MHZ~1GHZ).2)、CE测试:量测EUT产生的传导辐射干扰,其测试频率范围:150K~30MHZ.测试方法:参考相关测试标准EN55022或者其他测试标准;

    标签: emi测试

    上传时间: 2022-07-24

    上传用户:bluedrops

  • STM32F1XXX系列、STM32F4XXX系列核心板资料合集

    STM32F4XXX系列核心板资料: YD00-参考资料 YD01-ST32F401RBT6核心板资料 YD02-STM32F407ZGT6mini核心板资料 YD03-STM32F407VET6核心板资料 YD04-STM32F429核心板资料 配送资料 STM32F1XXX系列核心板资料: YD01-STM32F103C8T6核心板资料 YD010-STM32F103ZET6mini核心板资料 YD02-STM32F103RBT6核心板资料 YD03-STM32F103RB(RC)T6mini核心板资料 YD04-STM32F103RC(RE)T6核心板资料 YD05-STM32F103VE(VC)T6核心板资料 YD06-STM32F103VE(VC)T6mini核心板资料 YD07-STM32F103ZET6核心板资料 YD08-STM32F103ZE(ISP屏)核心板资料 入库资料 配送资料 …………

    标签: Visual 游戏程序 光盘

    上传时间: 2013-07-15

    上传用户:eeworm