RAM+Testing

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(1)测试外部数据RAM: 根据我们定义的逻辑,外部RAM在数据空间中定义在0x8000-0xFFFF,共32k字,占据RAM中的低32K存储空间。提供2种测试方法,采用一种方式即可。 硬件仿真模式下,将目标板上电。 第一种方...

2013-12-08 46 RAM+Testing

[AN225301]使用Excelon LP SPI F-RAM低功耗模式进行设计铁电随机存储器(F-RAM),相对于其它类型的半导体技术而言,铁电随机存储器(F-RAM)具有一些独一无二的特性。已经确定的半导体存储器可以分为两类:易失性和...

2022-06-25 7 RAM+Testing

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