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文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。
Port+Scan 技术资料
汇集 Port+Scan 相关的电路原理图、PCB工程文件、单片机/FPGA源代码、数据手册与应用设计方案。
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