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使用半导体测试系统降低测试成本 半导体测试系统(STS)系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统，适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编...
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NI PXIe-5644R数据表和规格 NI PXIe-5644R 6 GHz RF Vector Signal Transceiver
这些动态链接库为OPC 基金会提供的为实现OPC客户端所需的动态链接库.-these dynamic link library for the OPC Foundation for OPC client required dynamic l...
本文在分析传统OPC 数据访问技术不足的基础上，提出了Kepware OPC 统一数据访问技术方案，并结合实际应用验证了该技术的可行性。关键词：OPC；统一数据访问；自动化立体仓库过程控
使用NI LabVIEW和NI Multisim实现数字电路和模拟电路的联合仿真概览 以下文档介绍了如何 在NI LabVIEW和 Multisim软 件之间实现模拟和数 字数据的联合仿真。 学习如何使用 LabVIEW来改 变...