hello,this is a case of SIP test phone .
上传时间： 2014-01-08
上传用户：litianchu
A good automatic increase plus a link to the procedure, test a success rate of 80％
标签： automatic procedure increase success
上传时间： 2013-12-30
上传用户：15071087253
Introduction: 1. Macro1: AddFailureModeCol is used to the test report generated from GNPO Rpt Tools i. You can just open the test report, apply AddFailureModeCol 2. Macro2: DPHU_Match is for the test report after meeting i. You open the DPHU_Format_26Dec.xls, then apply DPHU_Match, after the program starts to run, you select the after-meeting test report from which you want to generate a dphu report. ii. Use “Save As” instead of “Save” to save the generated dphu report. Because later on you still want to use the DPHU_Format_26Dec.xls as a template.
标签： AddFailureModeCol Introduction generated Macro1
上传时间： 2016-08-09
上传用户：爺的气质
xvid test file xvid test file
上传时间： 2016-08-10
上传用户：jcljkh
this my own work ,thank you for rend it.i am a studennt from hunan.
上传时间： 2014-01-11
上传用户：fnhhs
scsi test demo scsi test demo
上传时间： 2013-12-02
上传用户：nairui21
NA, just the test file only, please don t download it
上传时间： 2013-12-17
上传用户：朗朗乾坤
Taiwan sunplus develop spce3200, it is a test program ----- testboard source code
标签： testboard sunplus develop program
上传时间： 2013-12-22
上传用户：yzy6007
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批准並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
标签： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上传时间： 2016-08-16
上传用户：sssl
ultrachip uc1698 test programe with MTP
标签： ultrachip programe 1698 test
上传时间： 2013-12-21
上传用户：赵云兴
