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查看全部 500 份 →独家电子元器件失效分析与典型案例
电子元器件失效分析与典型案例系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。基础篇阐述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具;案例篇按照元器件门类分为九章,即集成电...
2022-07-24
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CC1101、SI4432、SI4463相互通信的可能性与得失探讨
1.C1101是一款低于1GHz设计旨在用于极低功耗RF应用。其主要针对工业、科研和医疗(ISM)以及短距离无线通信设备(SRD)。CC1101可提供对数据包处理、数据缓冲、突发传输、接收信号强度指示(RSSI)、空闲信道评估(CCA)、链...
2022-08-17
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低噪声、低失调仪器放大器INA217及其应用
INA217是一种低噪声、低失调的集成仪表放大器.它具有较宽的带宽和增益动态响应.INA217独特的失调消除电路使其即使在高增益时也能把失调减小到最低范围,适用于低频音频信号采集系统的前置放大器、变频
2023-11-27
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微电子器件与IC的可靠性与失效分析.
微电子器件与IC的可靠性与失效分析.
2022-08-24
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GBT 1772-1979 电子元器件失效率试验方法.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范(国标、行标、安规、规范)->【国标 GB】->GBT 1772-1979 电子元器件失效率试验方法.pdf
2023-04-24
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