LED测试系统
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LED测试系统 热门资料
查看全部 500 份 →自动测试系统的通用性研究
通用性是当前ATS（自动测试系统）的发展方向，文章分别从硬件及软件两个方面对ATS通用性的关键技术进行了相应的研究，特别是提出了功能接口的概念，为实现测试系统的通用性奠定了基础。
2023-12-13
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基于Eclipse平台的TTCN-3测试系统
分析TTCN-3标准规范中的TTCN-3测试系统通用结构，提出一种基于Eclipse平台的TTCN-3测试系统体系架构。使用Eclipse的插件机制，实现TTCN-3测试环境与Eclipse平台的集成
2023-12-15
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基于TMS320VC5402的点火线圈测试系统
本文主要介绍一个点火线圈数据采集处理系统的设计。该系统以PC机作为上位机，利用DSP高速采集现场数据，并通过HPI主机通讯接口利用PCI9052与上位机PCI总线进行通讯，可以满足大量实时数据的处理要
2023-12-21
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基于ARM的LCU测试系统的设计
机车LCU单元测试是LCU单元证明其准确性、可靠性的重要的一环，是在LCU单元投放市场和实际运行之前的必要准备。ARM是一款cpu处理器的总称，根据它功耗小，性能优，价格成本低廉的特点，目前广泛用于嵌入式设备的核心处理器。本文的目标重点就在...
2023-12-24
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移动电站综合测试系统设计
· 摘要： 分析了某火炮移动电站的特点和测试要求,提出了基于高速数据采集和实时数据处理的综合测试方案,介绍了该测试系统的硬件组成和软件设计的特点.该系统以DSP高速数据采集处理模块为核心,可实现多通道高精度、快速的数据...
2024-10-07
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