基于SO 测试的IEEE P1500
随着集成电路技术的飞速发展以及SOC 系统的出现,电路的测试难度在不断增大,严重制约了SOC 技术的发展,文中从SOC 可测性设计出发全面介绍IEEE P1500,通过研究对比当前适用于SOC 领域的...
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