Gram扫描法

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边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。

2024-05-24 9 Gram扫描法

堪称一绝的键盘扫描方法 在做项目（工程）的时候，我们经常要用到比较多的按键，而且 IO 资源紧张， 于是我们就想方设法地在别的模块中节省 IO 口，好不容易挤出一两个 IO 口，却 发现仍然不够用，实在没办法了就添加一个 IC来扫键。...

2026-03-12 3 Gram扫描法

现场可编程门阵列(FPGA)是一种新型器件,它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体.如今,FPGA系列器件已成为最受欢迎的器件之一.随着FPGA器件的广泛应用,它在数字系统中的作用日益变得重要,它所要求的准确性也变得更高.因此,对...

2013-08-06 195 Gram扫描法