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这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。
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Friedlander算法,假定服务基站的二维坐标为(0,0),基站数为4,多基站的以后上传.test是一个测试程序.
嵌入式系统下内存泄漏检查库函数mTrace以及测试代码,有详细使用文档.这个是将malloc和free 函数控制起来,检查内存.
VTS(VisuaI Test Shelf) V3.4.7的源代码。VTS是美国国家联邦实验室N.I.S.T.所开发的BACnet协议下的报文的测试工具。BACnet（A Data Communication Protocol for B...
提出了独立的DICOM软件平台的设计框架,采用了SUR-DICOM-Lib软件实现,并进行了与RSNA CTN Test Node的连通性测试。
三个非常使用的高速的内存分配函数.读者可以直接拷贝这三个函数到程序中去,使用Allocate()和My_Free()代替系统提供的alloc()和free()函数.
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基...