jtag 原理介绍 主要介绍了arm jtag调试的基本原理
上传时间： 2016-07-31
上传用户：aig85
ARM9的S3C2410详细的开发文档及功能模块介绍,并包括JTAG烧写FLASH,烧写BIOS,LINUX的引导和烧写,LINUX的编译,BIOS下载运行WINCE,是非常珍贵和难得的资料!
上传时间： 2014-01-10
上传用户：wqxstar
很好的JTAG仿真器Banyan，跟H-JTAG差不多的。
上传时间： 2014-01-23
上传用户：edisonfather
生成绩管理系统是运行于Windows系统F的应用软件，主要用于对学生的学号、姓名等自然信息以及各项学科成绩进行增、删、改、查等操作，并且还可对使用该系统的用户进行登录名和密码的管理。系统给用户提供了一个简单的人机界面，使用户可以根据提示输入操作项，调用系统提供的管理功能。
上传时间： 2014-01-10
上传用户：qwe1234
有关F检验算法，向站长大哥问好，请容许我成为本站的一份子，谢谢。
标签： 算法
上传时间： 2014-02-27
上传用户：zhliu007
本文档讲述了ARM_JTAG环境的搭建以及JTAG调试的整个开发流程，对于想学习ARM及在线调试的兄弟有很大的帮助。
上传时间： 2014-01-22
上传用户：水口鸿胜电器
4*4键盘显示的4x4键盘识别与显示模块。小键盘中有0~f共16个按键，小键盘和数码管都连接到PLD芯片上，要求：按下哪个按键，数码管就显示哪个数码，松手后仍然显示该数码，直到按动新的按键。显示字符字形如表5-1所示。在此设计中，7段数码管只是个验证工具，因为实际应用中通常是一排数码管，而不是一个数码管。PLD芯片在此主要完成按键识别和显示驱动。
上传时间： 2016-08-15
上传用户：电子世界
在系统辨识过程中,估计模型阶次的F检验法
上传时间： 2016-08-16
上传用户：changeboy
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批准並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
标签： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上传时间： 2016-08-16
上传用户：sssl
DESCRIPTION : BIN to seven segments converter -- segment encoding -- a -- +---+ -- f | | b -- +---+ <- g -- e | | c -- +---+ -- d -- Enable (EN) active : high -- Outputs (data_out) active : low
标签： DESCRIPTION converter segments encoding
上传时间： 2016-08-17
上传用户：ainimao
